偏振片（也稱為偏光膜或偏光片）在AR/VR/XR眼鏡中實現著提升圖像清晰度與對比度，過濾雜亂光線，優化視覺效果，實現立體視覺等重要作用。

而在偏振片生產過程中，厚度是最基礎且關鍵的尺寸指標。當前傳統檢測方式面臨挑戰：

×  接觸損傷風險：傳統接觸式測量易劃傷光學膜層

×  數據可靠性低：高反光與透明層疊結構使傳統光學測量受干擾

×  多層測量難：偏振片的多層復合結構使單層厚度測量困難

檢測架構

針對生產過程中對高效高精度厚度檢測的迫切需求。光子精密提出基于CD-5000系列光譜共焦位移傳感器的厚度檢測方案，并已在典型客戶現場完成驗證，為客戶實現從抽樣到全檢的質控升級。

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檢測需求

檢測樣品

• 測量項目：偏振片厚度（含透明薄膜）

• 工件特性：多層復合結構，含高反光、透明膜層

• 精度要求：重復性≤0.02mm

• 速度要求：≥100kHz

? 無損測量：非接觸式測量避免膜層劃傷，檢測合格率顯著提升。

?  多層測量技術：可識別5層透明/半透明介質厚度，滿足復合結構工藝需求。

?  數據可靠穩定：±0.35μm線性度與多重抗干擾技術可將誤差穩定在0.2mm以下。

?  效率全面躍升：260kHz采樣頻率，適配高速產線檢測需求。

兩組CD-5000光譜共焦傳感器上下對射布置于測量區，配合膜片水平運動實現快速多點測量。

此架構可消除傾角影響，即使膜片輕微翹曲/傾斜，也可直接獲取真實厚度，無需傾角補償。

1）原材料來料檢驗

可對來料進行快速、無損的精密測量，確保檢測率提至99.99％。

2） 核心工藝厚度變化監控

批量生產中，集成多傳感器于檢測臺，一次性完成厚度、平面度、翹曲度等多參數測量，數據自動判斷并記錄，實現全流程質量追溯。

3） 模切/精密切割后（最終成品檢驗）