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半導體銀漿高度專用測量儀

供稿:zhipu 2009/1/10 10:05:04

人氣:105

  • 型號:ZP1501

  • 數量:有現貨

  • 制造商:廣州市智浦電子科技

  • 有效期:2099/12/31 0:00:00

描述:

 

                                                                                

技術指標:

測量方式:非接觸圖像識別測量

     測量范圍:10um—1mm(可定制其他范圍)

測量精度等級:±1%(根據選擇的放大倍數和用戶拍攝圖像清晰度有關)

易用性:用戶非常方便操作測量,可以打印、保存測試結果

顯微鏡工業相機象素:300(可定制更高象素)

圖像分辯率:1024x768(默認),最大1280x1024

圖像刷新率:25/

放大倍數:1-100(可定制更大倍數)

測量角度:0-90

位置調整:XY雙軸平臺,底盤為360度旋轉平臺

編號輸入:條形碼

通訊接口: RS232接口,3線制

通信距離: RS232 5

    工作電壓:DC12V/1A

儀器尺寸:600×650×500mm

工作溫度:050

聯系方式:
  • 電話:13640670774
  • 傳真:020-28309056
  • email:dragongjb@126.com