馬波斯 NCGR 厚度測量儀以光反射技術為測量原理，可有效測量多種材料的納米級薄膜的厚度。

馬波斯 NCGR 厚度測量儀可為獨立測量設備，也可連接自動化設備，在線管控厚度。不僅適用于成品檢測，其測頭設計讓其即使在惡劣生產條件下工作也能游刃有余，因而可用于產品在機內加工時的實時測量。

馬波斯NCGR厚度測量儀以光反射技術為測量原理：在不同表面的分界面處，光波發生反射，反射的波形取決于多層薄膜的疊加和各層薄膜的厚度。在多層復合材料上進行訓練后，這款測量儀就可測量出厚度僅有數納米的目標薄膜層的數據。

過去，納米級厚度測量幾乎都需要在加工后進行。而如今，隨著機床數控技術的發展，可實現加工的同時進行如此超高精度的測量。 馬波斯以數十年所積累的豐富經驗為基礎為此應用設計開發了專用的測頭和軟件，可滿足產品在機內加工過程中的實時測量要求

優勢：

• 提供納米級薄膜厚度的非接觸式測量。

• 加工過程中的實時測量