非接觸式光學(xué)測量

光譜共焦

     由于產(chǎn)品設(shè)計的演變往往與技術(shù)、復(fù)雜的形狀和外觀相匹配，因此市場對精度和質(zhì)量的要求越來越高。

     因此，測量和質(zhì)量控制正朝著使用非接觸式解決方案的方向發(fā)展，以實現(xiàn)高精度標準。

     STIL 光譜共焦是一種用于非接觸式光學(xué)測量的獨特技術(shù)，可滿足車間環(huán)境（如實驗室）中最苛刻的應(yīng)用。

Zenith

     ZENITH：性能穩(wěn)固、易于安裝、操作簡單

     ZENITH 是工業(yè)環(huán)境中光譜共焦控制器的上佳選擇。可提供不同的配置，擁有簡單的 SDK 或?qū)Ｓ械膮f(xié)議命令，它非常易于集成到機器中。

     ZENITH 控制器的柔性測量，可以將被測產(chǎn)品造成損害的可能性降低到零。基于以太網(wǎng)通訊， ZENITH可以在非接觸的情況下實現(xiàn)高精度的測量，而不會對被測產(chǎn)品造成任何損壞。

     ZENITH 框架緊湊，結(jié)構(gòu)穩(wěn)固，專為7天24小時全天候使用而設(shè)計。

     ZENITH 能夠在各種類型的材料和物體表面進行超高分辨率的距離和厚度測量，包括反射性材料。它可為多種應(yīng)用環(huán)境和各種表面反射提供解決方案：透明的或不透明的，高光或漫反射。

納米級厚度測量

     ZENITH 與 EVEREST 光學(xué)筆系列相結(jié)合，可以實現(xiàn)大角度柔性測量，能夠測量和評估各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)的輪廓。

     高頻率采樣是 ZENITH 與編碼器（最多5個）結(jié)合用于外部測量同步的動態(tài)應(yīng)用的理想選擇之一。

     ZENITH 的控制器可兼容所有 MARPOSS STIL 光學(xué)筆：CL-MG、OP、ENDO 和 EVEREST，可實現(xiàn)出色的計量表現(xiàn)（可達納米級精度）。

     ZENITH 代表著多個行業(yè)的最佳解決方案：例如汽車、玻璃、電子和半導(dǎo)體行業(yè)，以及生物醫(yī)學(xué)和電動汽車行業(yè)。