在性能測試過程中，經(jīng)常會遇到非設(shè)備性能因素導(dǎo)致的丟包，對測試產(chǎn)生困擾。這里簡單羅列幾種： 　　1、測試套上報FCS錯誤。一般是因?yàn)槟掣W(wǎng)線、光纖或某個模塊故障。解決方法為更換網(wǎng)線、光纖或模塊； 　　2、小字節(jié)不丟包，大字節(jié)丟包。因?yàn)榇笞止?jié)占用buffer資源更多，所以這種情況一般是因?yàn)殚L幀造成的資源不足引起的，可以通過改變buffer設(shè)置，來優(yōu)化測試結(jié)果； 　　3、大字節(jié)不丟包，小字節(jié)丟包。這種情況一般是由描述符資源限制引起的。部分芯片會為每個報文在其入端口上分配一個報文描述符，相同流量情況下，小字節(jié)占用的報文描述符就多； 　　4、MAC HASH沖突。在二層性能測試中，如果使用大量MAC地址測試，可能會出現(xiàn)少量MAC不能被芯片學(xué)習(xí)的情況，導(dǎo)致部分流量廣播，造成丟包。應(yīng)先測試設(shè)備的MAC HASH能力，然后調(diào)整MAC地址的數(shù)量； 　　5、聚合端口HASH不均造成丟包。一般情況下，在多芯片或者堆疊環(huán)境中，芯片之間的級聯(lián)口，或者堆疊設(shè)備之間的堆疊鏈路，都會使用多個高速鏈路的聚合方式來實(shí)現(xiàn)。在HASH算法不能保證絕對平均的情況下，會產(chǎn)生某條高速HASH到的流量速率過大，導(dǎo)致的丟包。